首页
产品中心
X 射线衍射仪（XRD）
X射线荧光光谱仪（XRF）
光电直读光谱仪（OES）
等离子体发射光谱仪(ICP)
新能源产品
电子扫描显微镜 (SEM)
三维X射线显微镜(XRM)
比表面积与孔隙度分析仪
流变仪
密度仪
表面张力仪
激光粒度仪
拉曼光谱仪
电池量热仪
泡沫分析仪
接触角测量仪
纳米压痕仪
表面分析
X射线光电子能谱仪
飞行时间二次离子质谱仪
扫描俄歇纳米探针
原子力显微镜
光学轮廓仪
离子源系统
半导体
X射线晶体定向仪
少子寿命测试仪µPCD/MDP (QSS)
光伏技术
电池片PID测试仪(PIDcon bifacial)
便携式现场PID测试仪(PIDcheck)
PID操作软件(PIDStudio)
少子寿命测试仪(MDPspot)
在线少子寿命测试仪(MDPLinescan)
单晶和多晶硅片寿命测量仪(MDPmap)
通用仪器/耗材
石英管/毛细管
单晶硅样品架
ICDD PDF卡片
JADE软件
行业应用
材料科学
光伏/半导体
环境地质
伦琴实验室
关于我们
新闻中心
公司新闻
行业新闻
案例展示
联系我们
搜索
中文
中文
English
当前位置：
首页
产品中心
表面分析
X射线光电子能谱仪
X 射线衍射仪（XRD）
X射线荧光光谱仪（XRF）
光电直读光谱仪（OES）
等离子体发射光谱仪(ICP)
新能源产品
电子扫描显微镜 (SEM)
三维X射线显微镜(XRM)
比表面积与孔隙度分析仪
流变仪
密度仪
表面张力仪
激光粒度仪
拉曼光谱仪
电池量热仪
泡沫分析仪
接触角测量仪
纳米压痕仪
表面分析
X射线光电子能谱仪
飞行时间二次离子质谱仪
扫描俄歇纳米探针
原子力显微镜
光学轮廓仪
离子源系统
半导体
X射线晶体定向仪
少子寿命测试仪µPCD/MDP (QSS)
光伏技术
电池片PID测试仪(PIDcon bifacial)
便携式现场PID测试仪(PIDcheck)
PID操作软件(PIDStudio)
少子寿命测试仪(MDPspot)
在线少子寿命测试仪(MDPLinescan)
单晶和多晶硅片寿命测量仪(MDPmap)
通用仪器/耗材
石英管/毛细管
单晶硅样品架
ICDD PDF卡片
JADE软件
全自动多功能扫描聚焦 X射线光电子能谱仪
Copyright © 湖北伊凡特电子仪器有限公司 版权所有
鄂ICP备2024034120号
