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ARL™ OPTIM'X WDXRF 波长色散 X 射线荧光光谱仪

ARL OPTIM’X WDXRF 光谱仪可以对多种样品中从碳至铀在内的元素进行分析,
具有高准确度、精密度和可靠性。凭借简单性、灵活性、可购性和可靠性,
WDXRF 成为分析实验室(例如 ASTM 和 ISO 标准)的标准测试方法。
单次分析成本比很多传统的湿化学分析和其他光谱法分析方法都有优势。


先进的技术

创新的 UCCO 技术(超紧密耦合光学),提供的强度比传统几何尺寸高达 210%

用于顺序式分析的独特性紧凑型 SmartGonio 装置

选配的多元素固定道可对选定元素进行更快的分析或得到更好的性能

选配的 OptiQuant 包可在特定标准品不可用或者只能获得少量或不规则形状的样品时,对多达 73 种元素进行“无标样”分析


主要特点

独特性 WDXRF 平台,具备顺序式和/或同时分析的能力

使用 200W X 射线电源获得相当于 500W 的分析性能

使用 50W X 射线电源获得相当于 200W 的分析性能

元素覆盖范围从碳至铀,取决于配置

可通过光谱仪和晶体的温度调节确保高精密度(短期和长期重复性)

从低 Z 元素到重元素(在 CaKα 时 ∼15 eV)[敏感词]的光谱分辨率

独立自动操作,无需水冷却

不需要气体供应(取决于配置)

简单直接的进样

样品换样器能够实现自动批次分析

占地面积小

可分析很多样品类型,包括导电和非导电固体、液体、松散粉末、压片、熔融微珠、糊剂、颗粒和涂层。


推荐用途

水泥工业替代燃料及废弃物焚化产品分析

石油产品和润滑剂中的硫 (S) 和其他元素的分析,完全符合 ASTM、ISO 和其他工业 WDXRF 标准

石灰石、沙子、铝土矿、陶瓷材料、耐火材料、炉渣和熔渣等原料中的主要和次要氧化物的分析

食品和化学产品中的主要和痕量元素以及污染物的分析



产品详情应用实例技术参数
J105 SIM是先进的三维成像ToF SIM,具有较好的灵敏 度和优异的成像和质谱性能。J105将创新设计和 科学 与各方面的功能列表相结合,重新定义了ToF SIMS的功 能。 使用高分辨率团簇离子束进行快速2D和3D成像,提供分子灵敏度。J105 SIMS具有一系列可供选择的高性能离子束和始终独自于样品的性能,可提供处理任何分析情况的工具。


优势 

  • 快速高分辨率2D和3D分子成像。

  • 所有样品的质量精度和质量分辨率一致,与样品高度无关。

  • 我们的 Water Source 具有没有可比性的的灵敏度和成 像质谱性能。 

  • 一系列高性能离子束,适合各种应用。 

  • 高质量精度和串联质谱用于精确的峰分配。

  • 全低温样品处理能力。



3D 质谱成像

 无需再次运行“sputter-only”循环即可获得高分辨率3D化学图像!由于高性能团簇离子束和创新型聚束ToF分析仪的独 特组合,J105上的分析和低损伤蚀刻同时发生。由于使用 集束束束进行分析,因此不需要“sputter-only”循环,并且对 每一层进行分析,这使得J105 SIMS成为3D成像和深度剖面 分析的极其精确的工具。 


所有样本的一致性 

对于每个实验来说,获得完全平坦的样本并不总是切实可 行的,而对于J105 SMIS,您不再需要这样做了!J105的创 新设计将主光束与ToF分析仪分离,提供与样品高度无关 的一致质量精度。因此,即使是复杂的3D结构,如支架、 支架和纤维,也可以在不损失性能的情况下进行分析。


没有可比性的的灵敏度 

J105利用Ionoptika享誉世界的团簇束技术,对完整的分子物 种提供没有可比性的的灵敏度,对于高级应用和高分辨率成像 至关重要。 现在,这项激动人心的新技术采用了新的水团簇源, 提高了完整分子离子(如脂质、药物和代谢物) 的灵敏度和优异的成像能力。