D8 DISCOVER X射线衍射仪

D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。

应用范围：

• 定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析
• X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析
• 残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）

• 总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）
  

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薄膜分析

X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：

• 掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。
• X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
• 高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。
• 应力和织构（择优取向）分析。

材料研究

XRD可研究材料的结构和物理特性，是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术的组件，可为您带来优异的性能和充分的灵活性，同时让研究人员对材料进行细致入微的表征：

• 定性相分析和结构测定
• 微米应变和微晶尺寸分析
• 应力和织构分析
• 粒度和粒度分布测定
• 使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析
• 倒易空间扫描

筛选和大区域扫描

涉及高通量筛选（HTS）和大区域扫描分析时，D8 DISCOVER是优异解决方案。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类优异：

• 孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选（HTS）
• 对最/大300 mm的样品进行扫描
• 安装和扫描重量不超过5kg的样品
• 自动化接口

微焦源IµS

配备了MONTEL光学器件的IµS微焦源可提供高/强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。

• 毫米大小的光束：高亮度和低背景
• 绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长
• MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度

• 与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。
  

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UMC样品台

D8 DISCOVER提供了许多UMC平台，具有全新的样品扫描和重量容纳能力：

• 可对重达5 kg的样品进行扫描
• 大区域映射：最/大300mm的样品
• 支持高通量筛选（HTS）的UMC样品台，最多支持三个孔板。

考虑到其高度的模块化性能，该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。

多模EIGER2 R检测器

EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。

• 先进的传感器设计，包括第二代性的EIGER：最/大尺寸为75 x 75mm²的50万像素，可实现微观分辨率的宏观覆盖。
  
• 符合人体工程学的设计：轻松即可根据应用需求，调节探测器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。
• 全景光学器件和附件，视野开阔。
• 0D、1D和2D操作模式：支持快照、步进、连续或高级扫描模式。
• 可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。

TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics

获得的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换：

• 用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何
• 用于毛细管，GID和XRR分析的高/强度平行光束Kα1,2几何
• 用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何

PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：

• 电动狭缝：用于高通量测量
• 分光晶体：用于高分辨率测量

使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER，无需重新配置，在环境条件下或非环境条件下，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所类型尽在掌握。